mardi 13 mars 2018, par Nicole Vilmer et Sophie Musset
Le système d’imagerie de STIX est composé de 30 sous-collimateurs, chacun étant constitué d’une paire de grilles et d’un détecteur. Le principe d’imagerie indirecte de STIX est basé sur la mesure de 30 visibilités complexes du plan de Fourier. Dans le cas de STIX, la mesure d’une visibilité est possible par la formation d’une frange de moiré sur un détecteur grâce à la modulation du signal par la paire de grilles placée devant celui-ci (voir la description de l’instrument). Ce motif de moiré est approximé par une sinusoïde. Comme les détecteurs de STIX sont pixellisés, on peut échantillonner sur chaque détecteur (sur quatre pixels) une visibilité complexe, c’est-à-dire en mesurer à la fois la partie réelle et la partie imaginaire (ou encore l’amplitude et la phase). La mesure d’une visibilité de Fourier dans l’instrument STIX est détaillée sur la page « STIX : mesure des visibilités ».
Les 30 collimateurs de STIX (détecteur et paire de grille) permettent donc de mesurer 30 points dans le plan de Fourier. L’échantillonnage du plan de Fourier par STIX (a) et la réponse brute de l’instrument à une source ponctuelle (b) sont montrés dans la figure ci-dessous.
(a) Echantillonnage du plan de Fourier par STIX et (b) réponse brute de l’instrument à une source ponctuelle. (Musset, PhD Thesis, 2016).
Pour améliorer la qualité de l’image, on peut (tout comme en radioastronomie), utiliser plusieurs algorithmes de traitement d’image (voir par exemple les algorithmes développés pour l’instrument RHESSI) permettant, entre autres, de déconvoluer l’image de la fonction d’étalement de point de l’instrument.
